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              • VT6100研究級共焦顯微鏡系統
                VT6100研究級共焦顯微鏡系統

                中圖儀器VT6000研究級共焦顯微鏡系統是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器??蓽y各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

                時間:2024-04-03型號:VT6100訪問量:60
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              • VT6100高分辨率顯微鏡共聚焦
                VT6100高分辨率顯微鏡共聚焦

                中圖儀器VT6000高分辨率顯微鏡共聚焦基于光學共軛共焦原理,結合精密縱向掃描、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析,并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數,從而實現器件表面形貌3D測量。

                時間:2024-04-03型號:VT6100訪問量:45
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              • CP200薄膜厚度測量臺階儀
                CP200薄膜厚度測量臺階儀

                中圖儀器CP系列薄膜厚度測量臺階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器,其主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量。它是一種常用的膜厚測量儀器,它是利用光學干涉原理,通過測量膜層表面的臺階高度來計算出膜層的厚度,具有測量精度高、測量速度快、適用范圍廣等優點。它可以測量各種材料的膜層厚度,包括金屬、陶瓷、塑料等。

                時間:2024-04-01型號:CP200訪問量:81
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              • CP200沉積薄膜臺階高度測量儀
                CP200沉積薄膜臺階高度測量儀

                中圖儀器CP系列沉積薄膜臺階高度測量儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器,其主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量。其采用LVDC電容傳感器,具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點使得其在ITO導電薄膜厚度的測量上具有很強的優勢。

                時間:2024-03-28型號:CP200訪問量:98
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              • VT6100激光共聚焦3D測量粗糙度顯微鏡
                VT6100激光共聚焦3D測量粗糙度顯微鏡

                中圖儀器VT6000激光共聚焦3D測量粗糙度顯微鏡基于光學共軛共焦原理,結合精密縱向掃描,以在樣品表面進行快速點掃描并逐層獲取不同高度處清晰焦點并重建出3D真彩圖像,從而進行分析的精密光學儀器,一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數。

                時間:2024-03-22型號:VT6100訪問量:123
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              • CP200高精度臺階高度測量儀
                CP200高精度臺階高度測量儀

                中圖儀器CP系列高精度臺階高度測量儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器,其主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量。它能夠測量納米到330μm甚至1000μm的臺階高度,可以準確測量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料。

                時間:2024-03-22型號:CP200訪問量:107
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              • CP200高精度薄膜厚度測量儀
                CP200高精度薄膜厚度測量儀

                線性可變差動電容傳感器(LVDC),具有亞埃級分辨率,13um量程下可達0.01埃。高信噪比和低線性誤差,使得產品能夠掃描到幾納米至幾百微米臺階的形貌特征。線性可變差動電容傳感器(LVDC),具有亞埃級分辨率,13um量程下可達0.01埃。高信噪比和低線性誤差,使得產品能夠掃描到幾納米至幾百微米臺階的形貌特征。它可以測量各種材料的膜層厚度,包括金屬、陶瓷、塑料等。

                時間:2024-03-22型號:CP200訪問量:125
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              • SuperViewW1白光干涉光學3D表面形貌輪廓儀
                SuperViewW1白光干涉光學3D表面形貌輪廓儀

                中圖儀器SuperViewW1白光干涉光學3D表面形貌輪廓儀利用光學干涉原理研制開發,能以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。測量中提供自動對焦、自動找條紋、自動調亮度等自動化輔助功能;提供自動拼接測量、定位自動多區域測量功能.

                時間:2024-03-22型號:SuperViewW1訪問量:115
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